本标准规定了半导体集成电路快闪存储器电参数、时间参数和存储单元功能测试的基本方法。
本标准适用于半导体集成电路领域中快闪存储器电参数、时间参数和存储单元功能的测试。
http://dbpub.cnki.net/grid2008/dbpub/detail.aspx?QueryID=8&CurRec=19&dbcode=SCHF&dbname=SCSF&filename=SCSF00054333&urlid=&yx=&uid=WEEvREdxOWJmbC9oM1NjYkcyQzZ4VEIxWitNa3FoWURCSE1mVUZtbExBTXI=$R1yZ0H6jyaa0en3RxVUd8df-oHi7XMMDo7mtKT6mSmEvTuk11l2gFA!!
